امروز سه شنبه ۱۳۹۸ ششم فروردين
Testing ex ante and ex post patent value indicators with patent renewal information
نام نويسندگان : Joo Young Og, Krzysztof Pawelec, Byung-Keun Kim Rafal Paprocki
نام كنفرانس و شماره آن : چهاردهمین کنفرانس آسیالیکس و هفتمین کنفرانس بین المللی مدیریت فناوری و نوآوری
سال انتشار 2017
كليد واژگان فارسی
كليد واژگان انگلیسی patent value; patent renewal model; ex ante indicators; ex post indicators; learning effects; pharmaceutical technology field
ثبت کننده مقاله: IRAMOT .

تاريخ: ۱۳۹۶/۷/۱۷ تعداد بازديد : ۲۶۴



صفحه اصلی      درباره ما      ارتباط با ما
.تمام حقوق این سایت متعلق به انجمن مديريت فناوری ايران می باشد
.هرگونه كپي برداري با ذكر منبع بلامانع است در غير اين صورت پيگرد قانوني دارد
طراحی و اجرا توسط وب باکس پورتال